ГЭСНм 32-01-101-06: Система параметрического… — расчёт ресурсов | СтройКомплаенс
ГЭСНм 32-01-101-06

ГЭСНм 32-01-101-06 — Система параметрического функционального контроля полупроводниковых ЗУ и БИС микропроцессоров

Базовый измеритель
1 компл
Операций
Нет данных
Труд
2
Машины
4
Материалы
1

Расчёт на объём

Введите объём в компл. Ресурсы пересчитаются пропорционально базовому измерителю.

Состав работ не указан в загруженных данных нормы. Условия и операции проверяйте по официальному сборнику и его технической части.

Ресурсы нормы по группам

Показатели приведены на базовый измеритель 1 компл. Полные названия и единицы сохранены из загруженных данных.

Трудозатраты

Позиций: 2
Код Полное наименование Количество Ед.
1-100-40 Средний разряд работы 4,0 58,4 чел.-ч
2 Затраты труда машинистов 1,2 чел.-ч

Машины и механизмы

Позиций: 4
Код Полное наименование Количество Ед.
91.05.05-015 Краны на автомобильном ходу, грузоподъемность 16 т 0,7 маш.-ч
91.06.03-060 Лебедки электрические тяговым усилием до 5,79 кН (0,59 т) 3,6 маш.-ч
91.06.07-002 Тали электрические общего назначения, грузоподъемность 0,5 т 0,34 маш.-ч
91.14.02-001 Автомобили бортовые, грузоподъемность до 5 т 0,5 маш.-ч

Материалы

Позиций: 1
Код Полное наименование Количество Ед.
01.7.03.04-0001 Электроэнергия 23,6 кВт-ч

Сравнение норм таблицы

ГЭСНм 32-01-101-* — текущая норма и соседние условия применения.

Код Полное наименование и условия работы Базовый измеритель Труд, чел.-ч Машины, маш.-ч
32-01-101-01 Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластин 1 шт 29,36 0,7
32-01-101-02 Машина для определения глубины залегания Р-П перехода 1 шт 36,34 3,36
32-01-101-03 Установка функционального контроля 1 шт 29,44 2,56
32-01-101-04 Установка двухпозиционная для визуального контроля масок 1 шт 37,4 3,2
32-01-101-05 Установка контроля сферы маски 1 шт 41,98 4,05
32-01-101-06 Текущая Система параметрического функционального контроля полупроводниковых ЗУ и БИС микропроцессоров 1 компл 59,6 5,14
32-01-101-07 Установка контроля прозрачности сферизованных масок ЦЭЛТ 1 компл 32,83 2,67
32-01-101-08 Система контроля микроканальных пластин по структурным параметрам лазерная с управлением от ЭВМ 1 компл 50,7 5,23
32-01-101-09 Установка контроля параметров: микроканальных пластин 1 компл 68,3 4,6
32-01-101-10 Установка контроля параметров: катодолюминофоров 1 компл 57,48 5,66

Ограничения расчёта

  • Ресурсные показатели пересчитываются пропорционально указанному объёму.
  • Он не определяет сметную стоимость и не применяет цены, индексы или коэффициенты условий производства работ.
  • Перед применением сверяйте код, состав работ и техническую часть соответствующего сборника.
Официальные материалы Минстроя России →

Источник этой нормы

ГЭСНм 81-03-32-2022 · ФСНБ-2022, дополнение № 19

Официальный источник →

Оставить отзыв

Оставить отзыв

Пока нет отзывов. Будьте первым!

Нашли ошибку в норме или ресурсах?

Интересное