ГЭСНм
32-01-101
ГЭСНм 32-01-101. Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластин
На странице собраны действующие варианты таблицы ГЭСНм. Исключённые нормы, если они есть, показаны отдельно и не участвуют в расчётах.
- Расценок в таблице
- 10
- Действующих: 10
- Сборник
- ГЭСНм 32 «Оборудование предприятий электронной промышленности и промышленности средств связи»
- Редакция базы
- ФСНБ-2022, дополнение № 19
- Документ-источник
- ГЭСНм 81-03-32-2022
Варианты таблицы ГЭСНм 32-01-101
Откройте нужную расценку, чтобы посмотреть полный состав работ и ресурсов или пересчитать показатели на свой объём.
- ГЭСНм 32-01-101-01 Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластин Базовый измеритель: 1 шт Труд: 29,36 чел.-ч Машины: 0,7 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-02 Машина для определения глубины залегания Р-П перехода Базовый измеритель: 1 шт Труд: 36,34 чел.-ч Машины: 3,36 маш.-ч Позиций ресурсов: 6 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-03 Установка функционального контроля Базовый измеритель: 1 шт Труд: 29,44 чел.-ч Машины: 2,56 маш.-ч Позиций ресурсов: 6 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-04 Установка двухпозиционная для визуального контроля масок Базовый измеритель: 1 шт Труд: 37,4 чел.-ч Машины: 3,2 маш.-ч Позиций ресурсов: 6 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-05 Установка контроля сферы маски Базовый измеритель: 1 шт Труд: 41,98 чел.-ч Машины: 4,05 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-06 Система параметрического функционального контроля полупроводниковых ЗУ и БИС микропроцессоров Базовый измеритель: 1 компл Труд: 59,6 чел.-ч Машины: 5,14 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-07 Установка контроля прозрачности сферизованных масок ЦЭЛТ Базовый измеритель: 1 компл Труд: 32,83 чел.-ч Машины: 2,67 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-08 Система контроля микроканальных пластин по структурным параметрам лазерная с управлением от ЭВМ Базовый измеритель: 1 компл Труд: 50,7 чел.-ч Машины: 5,23 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-09 Установка контроля параметров: микроканальных пластин Базовый измеритель: 1 компл Труд: 68,3 чел.-ч Машины: 4,6 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
- ГЭСНм 32-01-101-10 Установка контроля параметров: катодолюминофоров Базовый измеритель: 1 компл Труд: 57,48 чел.-ч Машины: 5,66 маш.-ч Позиций ресурсов: 7 Открыть норму и расчёт →
Сравнение вариантов нормы
В таблице показаны только показатели, которые фактически доступны в загруженных данных. Полные названия не сокращаются.
| Код | Описание варианта | Базовый измеритель | Труд, чел.-ч | Машины, маш.-ч | Ресурсных позиций |
|---|---|---|---|---|---|
| 32-01-101-01 | Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластин | 1 шт | 29,36 | 0,7 | 7 |
| 32-01-101-02 | Машина для определения глубины залегания Р-П перехода | 1 шт | 36,34 | 3,36 | 6 |
| 32-01-101-03 | Установка функционального контроля | 1 шт | 29,44 | 2,56 | 6 |
| 32-01-101-04 | Установка двухпозиционная для визуального контроля масок | 1 шт | 37,4 | 3,2 | 6 |
| 32-01-101-05 | Установка контроля сферы маски | 1 шт | 41,98 | 4,05 | 7 |
| 32-01-101-06 | Система параметрического функционального контроля полупроводниковых ЗУ и БИС микропроцессоров | 1 компл | 59,6 | 5,14 | 7 |
| 32-01-101-07 | Установка контроля прозрачности сферизованных масок ЦЭЛТ | 1 компл | 32,83 | 2,67 | 7 |
| 32-01-101-08 | Система контроля микроканальных пластин по структурным параметрам лазерная с управлением от ЭВМ | 1 компл | 50,7 | 5,23 | 7 |
| 32-01-101-09 | Установка контроля параметров: микроканальных пластин | 1 компл | 68,3 | 4,6 | 7 |
| 32-01-101-10 | Установка контроля параметров: катодолюминофоров | 1 компл | 57,48 | 5,66 | 7 |
Группы ресурсов таблицы
- Трудозатраты
-
5 наименований
20 позиций в вариантах - Машины и механизмы
-
6 наименований
37 позиций в вариантах - Материалы
-
1 наименований
10 позиций в вариантах
← Вернуться к сборнику ГЭСНм 32
Сообщить об ошибке
Ошибка зарегистрирована
Спасибо, мы разберёмся.