ГОСТ Р 71422-2024
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
Введён в действие:
Классификация ОКС
- 29.045 Полупроводниковые материалы
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
Введён в действие:
Автоматически подобраны по общей классификации ОКС и не являются официальными связями между документами.
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
Связанные документы не найдены
История изменений не найдена