ГОСТ Р 71380-2024

Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края

Введён в действие: 01.03.2025

Классификация ОКС

29.045 Полупроводниковые материалы

Поиск по этому стандарту Найдите нужное требование по ГОСТ Р 71380-2024 Укажите пункт или опишите задачу. Если стандарт уже подготовлен в корпусе, «Зодчий» покажет совпадающие нормативные фрагменты и источники. Перейти в «Зодчий»

Похожие стандарты по ОКС

Автоматически подобраны по общей классификации ОКС и не являются официальными связями между документами.

ГОСТ Р 71422-2024 — Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
ГОСТ Р 71334-2024 — Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
ГОСТ Р 71645-2024 — Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
ГОСТ Р 52250-2004 — Материалы электронной техники. Резисты для литографических процессов. Общие технические условия
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
ГОСТ 16153-80 — Германий монокристаллический. Технические условия
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы
ГОСТ 26239.9-84 — Трихлорсилан. Метод определения хлористого метила, хлористого этила, бутана, изобутана, хлористого метилена, хлороформа, четыреххлористого углерода, метилдихлорсилана, метилтрихлорсилана, хлорметилметилсилана
Общая категория: 29.045 — Полупроводниковые материалы

Связанные документы

Связанные документы не найдены

История изменений

История изменений не найдена