ГОСТ Р 59743.2-2022
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
Описание стандарта
Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз
Основные характеристики
- Полное наименование
- Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
- Наименование (EN)
- Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations
- Дата издания
- 01.03.2023
- Дата введения
- 01.08.2022
- Статус
- Действует
Скачать документ
Скачать PDFИсточник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Все контракты должны учитывать повышенную ставку НДС
Данные по эко-баллам будут добавлены позже