ГОСТ Р 59743.2-2022
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
Введён в действие:
Источник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Область применения и описание
Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз
Основные сведения
- Наименование на английском языке
- Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations
- Дата издания
- 01.03.2023
Классификация ОКС
- 37.020 Оптическое оборудование