ГОСТ 4.64-80
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Описание стандарта
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
Основные характеристики
- Полное наименование
- Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
- Наименование (EN)
- Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
- Дата введения
- 01.02.1985
- Дата издания
- 01.07.1981
- Статус
- Действует
Скачать документ
Скачать PDFИсточник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Все контракты должны учитывать повышенную ставку НДС
Данные по эко-баллам будут добавлены позже
Текущий статус
Связанные документы
Связанные документы не найдены