Действует
ОКС 37.020
ГОСТ Р 8.594-2009
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
Введён в действие:
Скачать документ
Источник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Основные сведения
- Наименование на английском языке
- State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes
- Дата издания
- 01.11.2010
Классификация ОКС
- 37.020 Оптическое оборудование