ГОСТ 28578-90
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания
Введён в действие:
Источник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Область применения и описание
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам)
Основные сведения
- Наименование на английском языке
- Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
- Дата издания
- 01.01.1991
Классификация ОКС
- 31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом