ГОСТ Р 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Введён в действие:
Источник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Область применения и описание
Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Основные сведения
- Наименование на английском языке
- Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
- Дата издания
- 01.01.2018
Классификация ОКС
- 31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
- 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника