ГОСТ 18986.7-73 — действует | Диоды полупроводниковые. Методы… — СтройКомплаенс
Действует ОКС 31.080.10

ГОСТ 18986.7-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

Введён в действие:

Скачать документ

Источник: files.stroyinf.ru

Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.

Область применения и описание

Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ

Основные сведения

Наименование на английском языке
Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Дата издания
01.01.1975

Классификация ОКС

  • 31.080.10 Диоды
Поиск по этому стандарту Найдите нужное требование по ГОСТ 18986.7-73 Укажите пункт или опишите задачу. Если стандарт уже подготовлен в корпусе, «Зодчий» покажет совпадающие нормативные фрагменты и источники. Перейти в «Зодчий»

Похожие стандарты по ОКС

Автоматически подобраны по общей классификации ОКС и не являются официальными связями между документами.

Связанные документы

ГОСТ 18986.0-74 📌 Нормативная ссылка (обязательная)

История изменений

№0 от 24.06.1987 (рег. 23.06.1987) «Срок действия продлен»
№1 от 01.02.1983 (рег. 26.08.1982) «Срок действия продлен»