ГОСТ 18986.4-73 — действует | Диоды полупроводниковые. Методы… — СтройКомплаенс
Действует ОКС 31.080.10

ГОСТ 18986.4-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости

Введён в действие:

Скачать документ

Источник: files.stroyinf.ru

Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.

Область применения и описание

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод

Основные сведения

Наименование на английском языке
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Дата издания
01.01.1975

Классификация ОКС

  • 31.080.10 Диоды
Поиск по этому стандарту Найдите нужное требование по ГОСТ 18986.4-73 Укажите пункт или опишите задачу. Если стандарт уже подготовлен в корпусе, «Зодчий» покажет совпадающие нормативные фрагменты и источники. Перейти в «Зодчий»

Похожие стандарты по ОКС

Автоматически подобраны по общей классификации ОКС и не являются официальными связями между документами.

Связанные документы

ГОСТ 10964-64 ↩️ Заменяет (этот ГОСТ заменяет другой)
IEC 60147-2M 📌 Нормативная ссылка (обязательная)

История изменений

№1 от 01.02.1982 (рег. 26.01.1982) «Срок действия продлен»
№2 от 01.03.1987 (рег. 02.10.1986) «Срок действия продлен»