Действует
ОКС 31.080.10
ГОСТ 18986.24-83
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Введён в действие:
Скачать документ
Источник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Область применения и описание
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения
Основные сведения
- Наименование на английском языке
- Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage
- Дата издания
- 01.07.1984
Классификация ОКС
- 31.080.10 Диоды