ГОСТ 26239.5-84
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Описание стандарта
Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Основные характеристики
- Полное наименование
- Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
- Наименование (EN)
- Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
- Дата издания
- 01.01.1986
- Дата введения
- 21.01.1985
- Статус
- Действует
Скачать документ
Скачать PDFИсточник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Все контракты должны учитывать повышенную ставку НДС
Данные по эко-баллам будут добавлены позже