ГОСТ 24613.8-83
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Введён в действие:
Источник: files.stroyinf.ru
Ссылка ведёт на документ, размещённый на стороннем ресурсе. Администрация сайта не несёт ответственности за содержание, актуальность и доступность документа на внешнем ресурсе. Переход и скачивание осуществляются на ваше усмотрение и риск.
Область применения и описание
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
Основные сведения
- Наименование на английском языке
- Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
- Дата издания
- 01.07.1984
Классификация ОКС
- 31.260 Оптоэлектроника. Лазерное оборудование